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AA探针台 2019-2-26 10:43
芯片漏电定位方法科普:EMMI/OBIRCH/TIVA/VBA 原创 仪准科技 王福成 转载请写明出处 芯片漏电是失效分析案例中最常见的,找到漏电位置是查明失效原因的前提,液晶漏电定位、EMMI(CCD\InGaAs)、激光诱导等手段是工程人员经常采用的手段。多年来,在中国半导体产业有个误区,认为激光诱导手段就是OBIRCH。今日小编为大家科普一下激光诱导(laser scan Microscope).      目前激光诱导功能在业内普遍被采用的有三种方法,这三种方法分别被申请了专#利(日本OBIRCH、美国TIVA、新加坡VBA)。国内大多数人认为只有 ... ...
AA探针台 2018-9-5 15:08
一提到IC漏电定位大家都认为只有OBIRCH,甚至很多业内人士也认为OBIRCH是一种设备的名称。为避免更多误解,今天小编给大家聊聊这方面的知识。 OBIRCH其实只是一种技术,是早年日本NEC发明并申请了专li。它的原理是:给IC加上电压,使其内部有微小电流流过,同时在芯片表面用激光进行扫描。 激光扫描的同时,对微小电流进行监测,当激光扫到某个位置,电流发生较大变化,设备对这个点进行标记,也就是说这个位置即为失效点。 TIVA是美国人和NEC同期发明的专li,和OBIRCH同等的技术,现在美国半导体产业一直在用。TIVA的原理 ... ...
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